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介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

簡要描述:LDJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為新一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到160MHz,可選配自動測試軟件模塊,實現(xiàn)自動介電常數(shù)測量。。

  • 產(chǎn)品型號:LDJD-C
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-06-30
  • 訪  問  量:2863

詳細介紹

品牌其他品牌產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域石油,建材

LDJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

一、產(chǎn)品簡介

         LDJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為新一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到160MHz,可選配自動測試軟件模塊,實現(xiàn)自動介電常數(shù)測量

    

LDJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項*技術(shù):

  • 雙掃描技術(shù)——測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。
  • 雙測試要素輸入——測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
  • 雙數(shù)碼化調(diào)諧——數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
  • 自動化測量技術(shù)——對測試件實施Q值、諧振點頻率和電容的自動測量。
  • 全參數(shù)液晶顯示——數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、Q 值、信號源頻率、諧振指針。
  • DDS 數(shù)字直接合成的信號源——確保信源的高保真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
  • 計算機自動修正技術(shù)和測試回路優(yōu)化使測試回路殘余電感減至低,** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

二、適用標準

  • LDJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀適用于固體和液體絕緣材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗因數(shù)的測試,測試能力符合以下標準(樣品尺寸應(yīng)按標準要求制作):
  • GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法》(等效IEC 602501969
  • GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法》
  • ASTM D150 Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation

三、主要參數(shù)

 

*1.信號源: DDS數(shù)字合成信號 100kHz-160MHz

*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)

3Q值測量范圍:11023

4Q值量程分檔:30、100300、1000、自動換檔或手動換檔;

*5.電感測量范圍:1nH140mH 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能

*6.電容直接測量范圍:1pF25nF                                      

7.主電容調(diào)節(jié)范圍: 17240pF                                        

8.準確度 150pF以下±1pF150pF以上±1%

9.信號源頻率覆蓋范圍100kHz160MHz

10.合格指示預(yù)置功能范圍:51000

11.環(huán)境溫度:0℃+40℃;

12.消耗功率:約25W;電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz

13.(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置:

數(shù)顯式微桿,平板電容器:

極片尺寸: Φ50mm/Φ38mm可選

極片間距可調(diào)范圍:≥15mm

夾具插頭間距:25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×104 1MHz

測微桿分辨率:0.001mm

測試極片:材料測量直徑Φ50mm/Φ38mm可選  厚度可調(diào) ≥ 15mm

*液體杯:測量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm

14. 電感組LKI-1

分別由0.1μH0.5μH、2.5μH、10μH15μH、50μH、100μH、1mH、5mH10mH十個電感組成。

 

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