簡要描述:LDJD-C高頻介電常數(shù)儀原理:介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì);通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù)。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
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應用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,建材,電子 |
LDJD-C高頻介電常數(shù)儀介紹:
介電常數(shù)測試儀采用高頻諧振法,并提供了通用、多用途、多量程的阻抗測試。
它以單片機控制儀器,測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定、標準頻率測試點自動設定、諧振點自動搜索、Q值量程自動轉(zhuǎn)換、數(shù)值顯示等新技術(shù),改進了調(diào)諧回路;
使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù),使得新儀器在使用時更為方便,測量時更為精確。
儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量;
電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。
高頻介電常數(shù)儀參數(shù):
LDJD-A型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀 信號源頻率覆蓋范圍10kHz~70MHz;主電容調(diào)節(jié)范圍:30~550pF;
LDJD-B型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀信號源頻率覆蓋范圍10kHz~110MHz,主電容調(diào)節(jié)范圍:30~540pF;
LDJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀信號源頻率覆蓋范圍100kHz~160MHz,主電容調(diào)節(jié)范圍: 17~240pF(一體鍍銀成型,精度高);帶步進馬達,電容自動搜索
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